電子組件振動試驗臺法    一、電子組件振動試驗臺法適用范圍：本標準規(guī)定用以測定電子組件（以下簡稱組件）于運輸或使用中承受振動之耐久性能之試驗方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。 注：試驗方法Ⅰ適用于測定對一般振動之耐久性，試驗方法Ⅱ適用于測定共振點及試驗方法Ⅰ、Ⅲ前后共振點之偏距，試驗方法Ⅲ適用于測定在共振點之耐久性。   二、電子組件振動試驗臺法裝置：振動裝置應能作表中所示各種試驗且符合下列條件。 （1）振動波形及失真率：施加于供試品之振動波形為正弦波，供試品安裝位置之振動加速度波形之備波含有率應為25%以下。 （2）振動振幅：規(guī)定振動方向之振幅容許差，須為規(guī)定值之±15%以內(nèi)。 （3）與規(guī)定振動方向垂直之振動：于供試品安裝位置，與規(guī)定振動方向垂直之振動，不論任何方向，其振幅應為規(guī)定方向之25%以下。 （4）振動頻率容許差：50Hz以下就為±1Hz，超過50Hz時應為±2%。 （5）掃描（1）方法：原則是為對數(shù)掃描，但平均掃描亦可。                    注：（1）1次掃描，例如10—55——10Hz，是指在規(guī)定振動頻率范圍作1次往復之頻率變化。   三、電子組件振動試驗臺法準備 3．1 供試品之安裝：將供試品依組件標準規(guī)定之方法，直接或使用夾具堅固地安裝于振動臺上。使用夾具時，須能施加振動于組件標準規(guī)定之方向，且夾具應具足夠機械強度，安裝后亦不得松動或發(fā)生共振，組件標準應規(guī)定下列任一種安裝方法。                   （1） 固定組件本體（有導線之組件，亦同時固定導線）。                   （2） 僅固定導線。   四、電子組件振動試驗臺法試驗 4．1 前處理：原則上不作前處理。但有特別需要時，依組件標準之規(guī)定。 4．2 初期測定：依組件標準之規(guī)定施行，檢查外觀。 4．3 試驗方法：依下列各項施行。如裝置產(chǎn)生磁導且供試品易受磁場影響時，于組件中應規(guī)定其較大允許值。         4．3．1 試驗方法種類：試驗方法分為Ⅰ（掃描耐久試驗）、Ⅱ（共振點偏移檢出試驗）及Ⅲ（共振點耐久試驗） （1）試驗方法Ⅰ（掃描耐久試驗）：依組件標準之規(guī)定，照下表施行（參照圖）。 振動原則上依次施加于供試品互相垂直之方向。試驗時間各方向均相同，合計6小時。                                                                                                   表        振動種類 試驗條件 種類A 種類B 種類C 振動頻率范圍 10～55Hz 100～500Hz 10～2000Hz 全振幅或加速度 1．5mm 1．5mm或98m/s2（10G）中較小者 1．5mm或196m/s2（20G）中較小者 掃描之比例 10-55-10Hz 約1分鐘 10-500-10Hz約15分鐘 10-2000-10Hz約20分鐘 掃描方法 對數(shù)掃描或平均掃描 試驗時間 6小時