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應(yīng)力雙折射儀 PA-300-XL SIC

產(chǎn)品信息

產(chǎn)品詳細

PA-300-XL SIC       在PA系類設(shè)備的基礎(chǔ)上,加裝晶圓專項使用的裝置,可以效率高的測量SIC和藍寶石這類光學性能特殊的產(chǎn)品的雙折射和殘余應(yīng)力的信息。 主要特點:操作簡單,測量速度可以快到3秒。視野范圍內(nèi)可一次測量,測量范圍廣。更直觀的一體讀取數(shù)據(jù),無遺漏數(shù)據(jù)點。具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。維護簡單,不含旋轉(zhuǎn)光學濾片的機構(gòu)。高達2056x2464像素的偏振相機。應(yīng)用領(lǐng)域:    SIC   藍寶石技術(shù)參數(shù):       項次           項目            具體參數(shù)1 輸出項目 相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應(yīng)力換算(選配)【MPa】 2測量波長520nm 3雙折射測量范圍0-130nm 4測量小分辨率0.001nm 5測量重復(fù)精度<1nm(西格瑪) 6視野尺寸40x48mm到240x320mm(標準) 7選配鏡頭視野不適用 8選配功能    實時解析軟件,鏡片解析軟件,數(shù)據(jù)處理軟件,實現(xiàn)外部控制  

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