溫度沖擊試驗(yàn)箱（Thermal Shock Chamber）   一、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 10592-2006《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB/T 10589-2006《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB/T 2424.5-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)》等效于IEC 60068-3-5:2001GB/T 5170.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備》二、滿足標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》等效于IEC 60068-2-1:2007，IEC 60068-2-2:2007GB/T 2423.22-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化》等效于IEC 60068-2-14:1984GJB 150.3A-2009《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)》GJB 150.4A-2009《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)》GJB 150.5A-2009《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)》三、規(guī)格說(shuō)明： 高溫室預(yù)熱溫度范圍+60~200℃升溫速率※1+60~+200℃≤20分鐘低溫室預(yù)冷溫度范圍-78~0℃降溫速率※1+20~-75℃≤70分鐘溫度偏差：±2℃　-40～150℃ 溫度恢復(fù)時(shí)間5min（試樣重量≤5kg）試驗(yàn)室尺寸：（深×寬×高mm）PJG-100 400×500×500PJG-150 500×500×500制冷方式：二元復(fù)疊機(jī)械制冷，水冷式機(jī)組制冷系統(tǒng)：全套附件均為*** 控制器：采用***專(zhuān)用溫度控制器（中文人機(jī)交談式畫(huà)面） 溫度沖擊試驗(yàn)箱原型如需更詳細(xì)方案可直接致電本公司，特殊規(guī)格或特殊要求將另做方案