日立9500 出售二手膜厚儀 日立膜厚測試儀詳細(xì)說明日立 FT9500系列 X射線熒光鍍層厚度測量儀儀器簡介：X射線發(fā)生系統(tǒng)為X射線聚焦光學(xué)系統(tǒng)（聚焦導(dǎo)管）與X射線源相結(jié)合，并且可以照射出實(shí)際照射直徑為0.1mmΦ以下高度度的X射線束。為此，可以對以往X射線熒光鍍層厚度測量儀由于照射強(qiáng)度不足而無法得到理想精度的導(dǎo)線架、插接頭、柔性線路板等微小部件及薄膜進(jìn)行測量。同時(shí)搭載高計(jì)數(shù)率、高分辨率的半導(dǎo)體檢驗(yàn)器，在測量鍍層厚度的同時(shí)，也能對RoHS、ELV、中國版RoHS等法規(guī)所管制的有害物質(zhì)進(jìn)行分析測量。技術(shù)參數(shù)：型號FT9500FT9550FT9500L測量元素Al（13）～Bi（83）X射線源管電壓：50（可變更）kV管電流： 10～1000 μA檢驗(yàn)器半導(dǎo)體檢驗(yàn)器（無需液氮）X射線聚光聚光導(dǎo)管方式樣品觀察CCD攝像頭（帶變焦功能）對焦激光對焦濾波器一次濾波器：3個位置（自動切換）樣品區(qū)域X:240mm, Y:175mmX:220mm, Y:150mm, Z:150mmX:420mm, Y:330mmX:400mm, Y:300mm, Z:50mmX:840mm, Y:540mmX:400mm, Y:300mm, Z:50mm測量軟件薄膜FP法（zui大5層、10種元素）、檢量線法、塊體FP法（材料組成分析）安全功能樣品門聯(lián)鎖1. 薄膜及多層膜測量通過采用新型的毛細(xì)管（X射線聚光系統(tǒng)）和X射線源，把與以往機(jī)型FT9500同等強(qiáng)度的X射線聚集在30 μmΦ的較微小范圍。因此，不會改變測量精度即可測量幾十微米等級的微小范圍。同時(shí)，也可對幾十納米等級的Au/Pd/Ni/Cu多鍍層的各層膜厚進(jìn)行高精度測量。2. 異物分析通過高能量微小光束和高計(jì)數(shù)率檢驗(yàn)器的組合，可進(jìn)行微小異物的定性分析。利用CCD攝像頭選定樣品的異物部分并照射X射線，通過與正常部分的能譜差進(jìn)行異物的定性分析（Al～U）。3. 數(shù)據(jù)編輯功能配備了Microsoft Excel和Microsoft Word。在Microsoft Excel上面配備了統(tǒng)計(jì)處理軟件，可以進(jìn)行測量數(shù)據(jù)、平均值、zui大/zui小值、C.V.值、Cpk等的統(tǒng)計(jì)處理。 另外，通過Microsoft Word可以簡單的制作包含了樣品畫圖的測量報(bào)告書。4. 高度度照射通過高度度照射在微小部分也可以鮮明的觀察、聚焦位置。5. 樣品工作臺配備等同與FT9550X的大型樣品臺，能夠?qū)Υ笮途€路板等樣品進(jìn)行整體排列測量對應(yīng)。