揭示了對含有鋰的經(jīng)過離子交換的化學強化玻璃進行表征的方法。該方法能夠對化學強化含Li玻璃中的應力分布進行質量控制，所述化學強化含Li玻璃具有在含鉀鹽(特別是同時具有鉀和鈉的鹽)中產(chǎn)生的表面應力尖峰。該方法實現(xiàn)了對表面壓縮和尖峰高層度、及其對中心張力的貢獻、和尖峰底部的壓縮以及總中心張力進行測量，以及計算在應力分布的尖峰與深區(qū)域相交的膝處的應力。測量是用于商業(yè)上重要的基材內(nèi)部除了尖峰之外的大部分地方是近拋物線形狀的分布。

　　本公開的一個方面涉及對具有表面應力尖峰的化學強化含Li玻璃進行表征的方法，例如，該玻璃是通過例如離子交換過程產(chǎn)生的(即，堿性離子的內(nèi)擴散)，從而Li+與K+和Na+離子發(fā)生交換(即，Na+)。該方法產(chǎn)生對表面壓縮和尖峰高層度的測量，及其對于中心張力的貢獻，以及在尖峰底部的壓縮和總中心張力。

　　優(yōu)選地，進行該方法以獲得商業(yè)上重要的應力分布，例如，在除了與基材表面相鄰的尖峰之外的基材的大部分內(nèi)部是近拋物線形狀的那種。尖峰通常是通過K+離子的較緩慢擴散(且由此較淺擴散)形成的，而基本上拋物線部分是通過Na+離子的較快速擴散(且由此較深擴散)形成的。該方法能夠驗證分布已經(jīng)達到近拋物線模式，例如，具有自我一致性檢查(self-consistency check)。該方法還包括對進行加工的玻璃樣品進行質量控制。此類質量控制對于商業(yè)上可行的制造工藝是重要的。

　　本公開提供了對化學強化含Li玻璃中的應力分布進行質量控制的方法，所述化學強化含Li玻璃具有在含鉀鹽(特別是同時具有鉀和鈉的鹽)中產(chǎn)生的表面應力尖峰。對于商業(yè)上重要的在(除了尖峰之外的)基材的大部分內(nèi)部是近拋物線形狀的分布，該方法實現(xiàn)了對表面壓縮和尖峰高層度進行測量，及其對于中心張力的貢獻，以及在尖峰底部的壓縮和總中心張力。該方法能夠檢查分布已經(jīng)達到近拋物線模式，例如，具有自我一致性檢查(self-consistency check)。該方法提供了對于質量控制特別重要的工具，這對于采用實現(xiàn)制造這些重要分布的含鋰玻璃是必須的。

　　對尖峰底部的應力水平(即，膝應力)進行測量的現(xiàn)有技術方法具有以下限制：橫向電場(TE)角度耦合譜的臨界角轉變的位置的測量度較差。這種差的度是TE轉變的固有方面，這是廣泛的，并且因此在棱鏡耦合光譜中顯得模糊。這種銳度缺乏導致測得的模線(mode line)位置易受照明角度分布的不均勻性(例如，背景不均勻性)和簡單的圖像噪聲的干擾。

　　本文所揭示的數(shù)種方法避免了對于確測量TE轉變的臨界角位置的確測量的需求。在方法的一個方面，測量了表面應力和尖峰中的應力斜率以及尖峰的高層度(層高層度或DOL)，其中，通過僅使用TM波的臨界角轉變，非常確地測量了DOL。這種TM轉變比TE轉變更為銳利，因而實現(xiàn)了確得多的測量。因此，在方法的一個例子中，沒有使用TE模譜(特別是TE譜的TE轉變)來確定尖峰的DOL。

　　知道了表面應力和尖峰的斜率以及尖峰的高層度(上文所述的DOL)，則確定了尖峰底部的應力，其中，尖峰的底部存在于高層度＝DOL處。這是“膝應力”并且在本文中表示為CS膝或者CSk，或者更一般形式σ膝。然后根據(jù)現(xiàn)有技術方法進行應力分布屬性的余下計算。

　　本文所揭示的第二種的方法避免了對膝應力進行直接測量并且通過使用TM和TE偏振都共用的后導模的雙折射來計算膝應力，以及確地確定了所述后共用導模的雙折射與膝處應力之間的關系。與臨界角(特別是在含Li玻璃的尖峰深分布情況下TE波的臨界角)測量的度相比，利用了模位置(mode position)的測量度通常更好的優(yōu)點。