本系統(tǒng)用于在線監(jiān)測薄膜鍍制過程中的光密度數(shù)值變化情況，給出準(zhǔn)確的光密度隨時(shí)間的變化曲線，監(jiān)控鍍膜的過程，本系統(tǒng)可選用LED 單波長測量或全光譜各波長的光密度數(shù)值測量。 It is used to inspect the changes of optical density during the film-coated process and can give the precise changing curve. 可選測量某波長的光密度，或全波長光密度 具有特殊設(shè)計(jì)的參考光路，長時(shí)間運(yùn)行無漂移 設(shè)備采用網(wǎng)絡(luò)化連接，配置靈活 可選擇與面電阻系統(tǒng)結(jié)合測量 自主開發(fā)軟件系統(tǒng)，自行設(shè)定變化趨勢報(bào)警區(qū)間 銷售經(jīng)理：王秀芹 158 111 86705